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CRG-SAE电子综合实训设备实验教学系统装置

简要描述:CRG-SAE电子综合实训设备实验教学系统装置本综合实验系统能够完成“电路基础"、“模拟电子技术"、“数字电子技术"、“ISP在系统编程EDA实验"、“VHDL设计"、“电子系统综合设计"等课程的实验。在实验方式上采用全新理念,保留了经典的传统基础功能模块验证性实验,增加了对中大规模复杂系统的设计、分析和管理实验,为学生提供了二次开发的良好环境,加强了学生对系统设计概念的培养和实践

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-03-29
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详细介绍
品牌创锐高产地类别国产
应用领域电气


CRG-SAE电子综合实训设备实验教学系统装置本综合实验系统能够完成“电路基础"、“模拟电子技术"、“数字电子技术"、“ISP在系统编程EDA实验"、“VHDL设计"、“电子系统综合设计"等课程的实验。在实验方式上采用全新理念,保留了经典的传统基础功能模块验证性实验,增加了对中大规模复杂系统的设计、分析和管理实验,为学生提供了二次开发的良好环境,加强了学生对系统设计概念的培养和实践,以适应电子系统日趋数字化、复杂化和大规模集成化发展的需要,真正做到学用结合,为创新性人才的培养打下良好基础。

一、系统特点:

CRG-SAE电子综合实训设备实验教学系统装置该实验装置具有安全、稳定、可读、可调整、直观、灵活和新型等特点,操作简单方便,装置运行可靠。具有很强的二次开发功能。

1、安全性

人员安全的保护:不论实验装置在正常工作或故障状态下,不会危及操作人员的人身安全。

对误操作的保护:不会因为误操作而导致实验装置损坏。

电源的过流保护:因短路等故障而过流时,可自动切断实验装置电源。

电源的电压保护:电源电压过高或欠压时,将自动切断实验装置电源。

2、直观性

实验装置功能模块的主要电气原理或特征将在面板或电路卡上指示,实验装置各功能引脚的符号标注在面板上,反面由元器件和透明有机玻璃防护罩组成,实验项目根据需要可以灵活配置和增加设计。

3、灵活性

实验装置采用主板和各模块分离的设计,可编程器件焊接在独立模块上。通过选择模块可以选择不同厂家、不同型号、不同规模的可编程器件,既可适应不同的教学需要,也使系统的功能和规模扩展变得更为方便。

为了方便实验操作,减少对实验仪器仪表的依赖,实验装置主板上各部分功能模块(包括一些基本功能模块和实验小工具)几乎都是相互独立的,可以根据需要选择模块进行接线。

实验装置提供扩展集成插座、面包板和部分必须的分立元件等,留有足够的接线机会,也给实验装置留有足够的机动灵活性。

4、新颖性

实验装置提供了逻辑可编程实验平台和模拟可编程实验平台,其中逻辑可编程实验平台包括CPLD/FPGA模块,模拟可编程实验平台包括ispPAC模块。不同模块使用不同的芯片,根据需要可选择不同功能芯片的模块插接到实验主板上。

二、技术指标

(一)数字电路功能单元

1、 4×4矩阵键盘:矩阵式结构,组合按键。

2、 8位乒乓开关:开关量输入。

3、 十六进制8421拨码盘:提供0~9,A~F 十六进制编码值。

4、 24位开关量输出:发光二极管红、黄、绿色三组各八只高亮度发光二极管,含电流驱动。

5、 6位LED显示:7段数码管静态显示方式6位,动态显示方式1-6位均可,含电流驱动。

6、 有源晶振:4MHz标准时钟,通过模块跳线器选择,向可编程器件的CLK1提供时钟。

7、 可编程脉冲序列发生器:由555振荡器构成频率可调、脉冲数可设置的脉冲序列发生电路。

8、 单脉冲发生器:提供加消抖处理单个±脉冲输入。

9、 逻辑笔:可测量逻辑高低电平、高阻和脉冲状态。

10、数字电路模块IC1扩展卡:

 1个40芯IC座,1个20芯IC座,1个14芯IC座

数字电路模块IC2扩展卡:

 1个40芯IC座,1个20芯IC座,1个8芯IC座

(二)模拟电路功能单元

1、模拟电路模块接入区:可接入各种模拟电路实验模块

2、波形发生器单元

输出波形:方波、三角波、正弦波

幅值:正弦波:0~14V(14V为峰-峰值,且正负对称)

三角波:0~24V(24V为峰-峰值,且正负对称)

方波:0~24V(24V为峰-峰值,且正负对称)

频率范围:分四档2HZ~20HZ、20HZ~200HZ、200HZ~4KHZ、4KHZ~100KHZ

3、直流信号源单元:双路±5V、±0.5V、两档连续可调。

4、3位半数字电压表:测量范围:-19.99V~+19.99V

(三)EDA实验功能单元

1由数字电路功能单元、模拟电路功能单元共同组成。

2、可编程器件模块(根据要求选择)

(四)扩展实验模块区

1、集成电路扩展插座:可插实验用IC芯片或ispPAC模块。

2、面包板单元:主板上由二组中国台湾产面包板组成接插件专区,方便进行扩展实验。

三、实验内容:

1、数字部分基本实验(由二块IC扩展卡共同完成):

l)门电路逻辑功能及测试;   (2)组合逻辑电路(半/全加器);  (3)R-S、D、JK4、触发器;

4)三态输出触发器、锁存器; (5)集成计数器及寄存器;       (6)时序电路测试及研究;

7)译码器和数据选择器;     (8)波形发生及单稳态触发器;   (9)555时基电路

可选做如下实验:

10)CMOS门电路测试;  11)门电路的驱动能力测试; 12)MSI加法器实验;

13)寄存器及其应用实验;(14)顺序脉冲和脉冲分配器电路;  (15)多路模拟开关及其应用实验;

16)四路优先pan决电路实验;(17)TS、OC门的功能测试及其应用实验;(18)逻辑笔实验与分析实验;

19)竞争冒险实验;    20)计数器MSI芯片的应用;     (21)施密特触发器及其应用实验;

22)数字定时器实验;    (23)电子校音器实验; (24)TTL不同系列芯片性能和参数的测定实验;

25)TTL与CMOS相互连接实验; 26)触发器应用实验;  27)时序电路应用实验;

28)单稳态触发器及其应用实验; 29)电压变换器实验; 30)示波器多踪显示接口实验

2、模拟部分实验内容(共有七个实验模块):

A模拟电路模块A1

1、基本单级放大电路;  2、两级放大电路;  3、负反馈放大电路; 4、LC振荡器及选频放大器 5、RC正弦波振荡器; 6、射级跟随器;

B模拟电路模块A2

  1、集成功率放大器; 2、互补对称功率放大器;

C模拟电路模块A3

  1、集成稳压电路;

D模拟电路模块A4

 1、串联稳压电路;  2、晶闸管控制

E模拟电路模块A5

1、 场效应管实验  2、差分电路实验

F模拟电路模块A6

1、 电压跟随器 2、反向比例放大器 3、同相比例放大器  4、反相求和比例放大器

5、双端输入求和放大电路  6、积分电路 7、微分电路 8、微积分电路 9、方波发生器

10、占空比可调的矩形波发生器 11、三角波发生电路 12、锯齿波发生电路 13、低通滤波器

14、高通滤波器 15、带阻滤波器 16、过零比较器 17、反相滞回比较器 18、同相滞回比较器

19、电流/电压转换电路 20、电压/频率转换电路 21、波形变换电路 22、集成电路RC正弦波振荡

G模拟电路模块A7

   1、整流滤波与并联稳压电路




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